PantheraTEC为半导体和其他材料的检测和分析提供了很高的价值，特别是在质量控制和技术教育方面。明场、暗场和简易偏光以及新的LED分段照明相结合，这一概念允许倾斜入射照明角度，非常适合检测平面和反射表面上的划痕或其他缺陷，而无需移动样品。
PantheraTEC具有出色的成像性能，安装在5孔编码转换器上的每个目标镜头的光强能够自动记忆。
技术参数
| 总放大倍数 | 50X-500X(选购100X，最高放大倍率1000X) |
| 目镜 | UC-WF10X/22，屈光度可调+/-5 |
| 物镜 | Plan Achromat BF/BD 5X/10X/20X ；Plan S-APO BF/BD 50X； Plan S-APO BF/BD 100X(选购) |
| 观察筒 | 铰链三目观察筒，25°倾斜角， 360°旋转，分光比50/50 |
| 双目镜筒瞳距 | 48-75mm |
| 样品最大厚度 | 35mm |
| 物镜转换器 | 五孔编码转换器，BF、BD可选 |
| 粗微调焦装置 | 粗、微调同轴调焦，微调：0.2mm/转 上限位，松紧调节环 |
| 机械移动载物台 | 3X2"机械载物台，尺寸180(W) X 140(D)mm 行程75(X)X 50(Y)mm，6X4"载物台可选 |
| 照明 | LED照明 |
| 扩展功能 | 偏光观察、透反射机型 |
| 其它 | 照明亮度追踪，睡眠待机模式，LED亮度指示功能，BD机型智能分段环形照明 |
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