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减反射膜反射比测试仪
减反射膜反射比测试仪图片
品牌:HISTORY
产地:辽宁大连


产品介绍

主要规格和技术参数

1.2.1 仪器技术指标

波长范围:190nm~1100nm
波长最大允许误差:±0.3nm
波长重复性:≤0.1nm
透射比测量范围:0~999%
吸光度测量范围:-4.000~4.000A
透射比最大允许误差:±0.3% ±0.002Abs(0.5Abs处)、±0.004Abs(1.0Abs处)、±0.006Abs(2.0Abs处)
透射比重复性:≤0.15% ±0.001Abs(0.5Abs)、±0.002Abs(1.0Abs)
漂移:≤0.0004A/h(开机1小时后,500nm处)
基线平直性:±0.0008A
杂散光:0.04%
噪声:100%线噪声≤0.2%;0% 线噪声≤0.1%
扫描速度:波长移动:约3000nm/min,波长扫描:24nm/min-1400nm/min
最小光谱带宽:1nm

1.2.2 仪器使用条件

环境温度:5℃~40℃
环境湿度:≤85%
海拔环境:≤2000m
工作电压:AC 100V~240V 50Hz/60Hz
电压允许波动范围:AC 85V~265V 50Hz/60Hz
额定功率:200W
主要配套件:打印机
保险丝型号和规格:RF1-20/F3.15AL250V
  附:室内无强烈的电磁干扰及影响使用的震动

1.2.3 仪器规格

外形尺寸:长650mm×宽450mm×高220mm
仪器重量:25kg
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大连赫斯特瑞仪器设备有限公司
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联系人: 销售
邮编: 116600
地址: 辽宁省大连市经济技术开发区哈尔滨路34号
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