Zetasizer Nano ZS90是一种完美的高性价比解决方案，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与采用90度散射光学元件的原有系统结果相同的情况。
    ·使用90度散射光学元件，在0.3nm(直径)到5μm的范围内测量粒度。
    ·使用专利M3-PALS技术测量胶体和纳米颗粒的Zeta电位。
    ·分子量测量最小可达9,800Da。
    ·"质量因子"及"专家诊断系统"尤如专家伴随您的左右，使您成竹在胸。
    ·21 CFR Part 11 软件选项可实现ER/ES合规性。
    ·科研级软件选项，为光散射专家提供了进一步分析描述运算法则的机会。
    ·使用自动滴定仪选件进行自动测量。
    ·可选择激光器，50mW，532nm，用于标准633nm激光器不能检测的样品
    ·光学滤波片，改善荧光样品的测量。
    ·温度范围最高可达120℃。

    Zetasizer Nano ZS90在一种紧凑型装置中包含了三种技术，且拥有一系列选件及附件，以便优化并简化不同样品类型的测量。
    动态光散射 90度散射角来测量颗粒和分子粒度。 该技术可测量布郎运动下移动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦关系将其转化为粒度与粒度分布。
    激光多普勒微量电泳法可用于测量zeta电位。 分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关 使用专利型激光相干技术 M3-PALS (相位分析光散射法)检测其速率。 这样可以计算电泳迁移率，并由此计算zeta电位，精确测量多种样品类型和分散介质，包括高浓度盐和非水性分散剂。
    静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。 在此检测方法中，检测不同浓度下样品的散射光强，并且绘制Debye曲线。 通过该装置，可以计算平均分子量和第二维里系数。
    这种测量对整个系统的稳定性的要求非常高，意味着每个设计元素都进行了优化，以确保精度和可重复性。
    软件
    该软件的设计旨是不影响使用简便性的情况下实现功能特点的丰富多样。 标准操作程序(SOP)可简化常规测量，质量因子可对成功测量进行确认，专家建议系统则可为数据说明提供协助。
    选项
    MPT-2自动滴定仪可对pH值、电导率或任何添加剂中的变化影响进行自动化研究。
    一系列可抛弃性以及可重复使用的样品池，可对样品体积、浓度以及流量方面的测量进行优化。
    其它选件包括可改善荧光样品测量的滤波器，温度范围高达120℃，以及一个粘度计，用于确定样品粘度达到技术要求的精确性。

技术指标：
    颗粒粒度及分子大小
    测量范围          : 0.3nm - 5.0μm*(直径)
    测量原理          : 动态光散射法
    最小样品容积      : 20µL
    精确度            : 优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%
    精确度 / 可重复性 : 优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%
    灵敏度            : 10mg/mL(溶解酵素)
    Zeta电位
    测量范围     : 3.8nm - 100 微米*(直径)
    测量原理     : 电泳光散射法
    最小样品容积 : 150µL (20µL ，采用扩散障碍法)
    精确度       : 0.12µm.cm/V.s，针对水性系统，采用NIST SRM1980标准参考物质
    灵敏度       : 10mg/mL(BSA)
    分子量
    测量范围     : 9,800Da – 20M Da*
    测量原理     : 静态光散射法，使用德拜图
    最小样品容积 : 20µL(需要3-5种样品浓度)
    精确度       : +/- 10% 典型值
    常规
    温度控制范围 : 0°C - 90°C +/-0.1**, 120°C 选装
    光源         : He-Ne 激光器 633nm，最大 4mW
    激光安全     : 1类
    电源功率     : 100VA
    重量与尺寸
    尺寸 (宽, 长, 高) : 320mm、600mm、260mm(W、D、H)
    重量              : 21 kg
    运行环境
    温度 : 10°C – 35°C
    湿度 : 35% - 80%无冷凝
    备注
    *    : 最大范围，以样品为准
    **   : 25°C条件下
    专利 : Zetasizer Nano系列受以下专利保护：|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580，US6016195，JP11051843|高频和低频电泳 (M3)|EP1154266，US7217350，JP04727064 |使用同时检测的光散射测量|EP2235501，CN102066901，JP2011523451，US20090251696|插入式样品池表面电位测定|WO2012172330