VIEW Pinnacle 250影像测量仪
产品介绍
特征: - 测量范围:250 x 150 x 100 mm - 25公斤承载力 - 亚微米的光栅尺分辨率 - X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/秒 - Z轴DC伺服回转马达驱动,100 mm/秒 - 误差映射:在XY平面非线性二维纠错 - 双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍 - 可编程LED平台背光及同轴表面光照明 - 可编程多色环形灯(PRL)选项 - TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能 - SpectraProbeTM 高分辨率彩色传感器选项 - 先进的图像处理性能,快速、精确、稳健 - 双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例 - 次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel - 独立的Anthro Cart Operator工作站 - 强大的测量软件和数据分析工具可供选择 - 平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时 Pinnacle 的应用范围包括: BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die 引线框,引线接合,柔性线路板,连接器 SMT元件贴装 锡膏/环氧数脂胶点 芯片载体和托盒 喷墨打印机墨盒 光纤组件和MEMs 数据存储 悬置件 滑块和悬臂组(HGA) 磁盘介质基板 精密注塑和机加工件 用户评论 产品评分 目前评分共0人 产品质量
售后服务
易用性
性价比
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